XRF(X射线荧光)是一种用于确定材料元素组成的无损分析技术。XRF分析仪通过测量样品在一次X射线源激发下发出的荧光(或二次)X射线来确定样品的化学性质。样品中的每一种元素都会产生一组特定元素特有的特征荧光X射线(“指纹”),这就是为什么X射线荧光光谱是对材料成分进行定性和定量分析的优秀技术。
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